回路電阻測(cè)試儀檢測(cè)開(kāi)關(guān)柜發(fā)熱方法

開(kāi)關(guān)柜回路電阻測(cè)試方法包括紅外測(cè)溫法、無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法、光纖光柵測(cè)溫法、測(cè)溫貼片法、直流電阻檢測(cè)法，開(kāi)關(guān)柜內(nèi)一次設(shè)備發(fā)熱隱患可以通過(guò)不停電溫度監(jiān)測(cè)直接診斷，也可以通過(guò)停電直流電阻測(cè)試間接診斷。開(kāi)關(guān)柜內(nèi)溫度檢驗(yàn)方法在實(shí)際應(yīng)用中存在局限性，而傳統(tǒng)的直流電阻測(cè)試方法只能測(cè)量單臺(tái)斷路器或隔離開(kāi)關(guān)的數(shù)據(jù)。本文提出開(kāi)關(guān)柜全回路電阻概念，探索使用開(kāi)關(guān)柜回路電阻測(cè)試方法判斷開(kāi)關(guān)柜內(nèi)一次設(shè)備過(guò)熱缺陷的可行性。

一、開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備發(fā)熱情分析

回路電阻測(cè)試儀開(kāi)關(guān)柜內(nèi)導(dǎo)體在運(yùn)行中會(huì)產(chǎn)生熱能。
在相同的時(shí)間內(nèi)，發(fā)熱量是由導(dǎo)體電阻和負(fù)載等效電流決定的。當(dāng)開(kāi)關(guān)柜內(nèi)導(dǎo)體接觸面電阻異常增大時(shí)，會(huì)在單位時(shí)間內(nèi)造成明顯溫升，我們稱(chēng)之為開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備過(guò)熱。過(guò)熱會(huì)引起設(shè)備絕緣急劇下降z(mì)ui終導(dǎo)致放電事故。
開(kāi)關(guān)柜內(nèi)各部件zui大允許溫升見(jiàn)表1。

二、開(kāi)關(guān)柜內(nèi)發(fā)熱診斷檢測(cè)技術(shù)

回路電阻測(cè)試儀開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備發(fā)熱診斷檢測(cè)技術(shù)根據(jù)設(shè)備停電與否可以分為停電檢測(cè)和帶電檢測(cè)，其中帶電檢測(cè)包括紅外測(cè)溫法、無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法、光纖光柵測(cè)溫法等;而停電檢測(cè)主要是指在停電條件下對(duì)設(shè)備進(jìn)行直流電阻檢測(cè)，測(cè)溫貼片法由于直接粘貼于開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部導(dǎo)電設(shè)備接頭上，在不停電條件下只能通過(guò) 觀察窗看到有限部位貼片的顏色變化，因而也屬于停電檢測(cè)。下面對(duì)幾種開(kāi)關(guān)柜內(nèi)發(fā)熱珍斷檢測(cè)方法分別進(jìn)行論述。

1、紅外測(cè)溫法

一切高于*零度的物體由于熱運(yùn)動(dòng)都會(huì)向外發(fā)出波段在0.75-100um的紅外輻射，紅外測(cè)溫法就是使用紅外測(cè)溫儀測(cè)量物體表面紅外輻射能量，將之轉(zhuǎn)化為電信號(hào)并zui終換算為被測(cè)目標(biāo)的溫度值的一種測(cè)溫方法。紅外測(cè)溫法是一種非接觸測(cè)溫方法，可以在滿(mǎn)足不停電工作安全距離的前提下帶電檢測(cè)開(kāi)關(guān)柜溫度具備測(cè)量范圍廣、精度高的優(yōu)點(diǎn)。但是使用紅外測(cè)溫法只能測(cè)量開(kāi)關(guān)柜外殼溫度，如果想斷開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部元件發(fā)熱情況只能采取帶電拆卸開(kāi)關(guān)柜外殼的方法，存在安全風(fēng)險(xiǎn)可行性低。

2、無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法

無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法屬于微電子技術(shù)一個(gè)創(chuàng)新，它通過(guò)無(wú)線(xiàn)傳感技術(shù)連接各個(gè)元件單元，并進(jìn)行信息傳遞和命令傳輸。開(kāi)關(guān)柜無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法是將測(cè)溫探頭植入開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部，檢測(cè)開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備溫度，并通過(guò)無(wú)線(xiàn)傳輸將結(jié)果輸出到計(jì)算機(jī)終端的一種測(cè)溫方法。使用無(wú)線(xiàn)測(cè)溫法測(cè)量開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備溫度具有智能自動(dòng)化、監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)化的特點(diǎn)，但是無(wú)線(xiàn)感應(yīng)模塊電源供給方而存在硬傷。使用感應(yīng)電源，存在電源供給不足問(wèn)題；使用電池電源則會(huì)嚴(yán)重受制于電池質(zhì)量壽命，難以大面積推廣。

3、光纖光柵測(cè)溫法

光纖光柵測(cè)溫法是基于光纖測(cè)溫法的一種改進(jìn)方法。光纖光柵測(cè)溫法的原理是通過(guò)光纖傳感器與被測(cè)對(duì)象相互作用而產(chǎn)生光信息，并經(jīng)一個(gè)或多個(gè)光纖引線(xiàn)和信號(hào)調(diào)節(jié)裝置，傳輸光信號(hào)完成測(cè)量。光纖光柵測(cè)溫法優(yōu)點(diǎn)在于受環(huán)境干擾小、測(cè)溫精度很高，缺點(diǎn)是成本高，不利于在變電站內(nèi)推廣使用。

4、測(cè)溫貼片法

測(cè)溫貼片法是利用測(cè)溫貼片在高溫下變色的特性，通過(guò)定期檢查粘貼在設(shè)備接頭的試溫蠟片顏色，來(lái)判斷該部位是否存在過(guò)熱缺陷的一種測(cè)溫方法。測(cè)溫貼片法用于檢測(cè)開(kāi)關(guān)柜內(nèi)元件發(fā)熱隱患具有前期投入成本低、效果直觀等優(yōu)點(diǎn)，但也有一定局限性 。
a . 測(cè)溫貼片在某一溫度值發(fā)生變色，但是不能反映出設(shè)備實(shí)際發(fā)熱溫度，無(wú)法診斷設(shè)備發(fā)熱劣化程度，對(duì)于設(shè)備正常發(fā)熱與設(shè)備缺陷過(guò)熱造成的貼片變色難以區(qū)分。 
b.全封閉金屬鎧裝開(kāi)關(guān)柜缺少足夠的觀察孔，無(wú)法帶電檢測(cè)全部測(cè)溫貼片變色的情況，而結(jié)合其他停電計(jì)劃技術(shù)交流進(jìn)行檢測(cè)會(huì)增大工作量、嚴(yán)重影響工時(shí)度。

5、直流電阻檢測(cè)法

直流電阻檢測(cè)法是通過(guò)回路電阻測(cè)試，采用1OOA大電流法直接測(cè)量被測(cè)設(shè)備電阻值來(lái)判斷其運(yùn)行狀態(tài)是否會(huì)產(chǎn)生過(guò)熱一種間接測(cè)試方法。由公式:可知單位時(shí)間內(nèi)承受恒定負(fù)荷的開(kāi)關(guān)柜內(nèi)設(shè)備異常溫升主要由設(shè)備接觸電阻增大導(dǎo)致，因而設(shè)備接觸電阻測(cè)試結(jié)果可以用于判斷設(shè)備是否存在過(guò)熱。一般來(lái)說(shuō)，單個(gè)設(shè)備接觸面接觸電阻不應(yīng)大于20uA。傳統(tǒng)的直流電阻測(cè)試法只是測(cè)量開(kāi)關(guān)柜內(nèi)某一元件的接觸電阻，不能用于診斷開(kāi)關(guān)柜內(nèi)所有一次設(shè)備是否存在過(guò)熱隱患。

上一篇 回路電阻測(cè)試儀工作原理 下一篇 回路電阻測(cè)試儀檢定